W ciągu ostatnich kilku lat liczba systemów do akwizycji i analizy dyfrakcji elektronów wstecznie rozproszonych w skaningowych mikroskopach elektronowych rośnie systematyczne w laboratoriach prowadzących badania z zakresu inżynierii materiałowej. W trakcie badań pojawiają się różnego rodzaju wątpliwości dotyczące samego pomiaru dyfrakcyjnego i późniejszej interpretacji... więcej ?